CL-500A收购CL-500A照度计
采购CL-500A41 采购商所在地:广东 深圳市 长期有效,最后更新于2015-03-02,以下是关于“CL-500A”采购详情。
回收CL-500A分光辐射照度计
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CL-500A用于在照明现场和实验室环境测量光源的三刺激值、色度、色差、显色
指数、相关色温及照度。
CL-500A是柯尼卡美能达推出的首款轻便、手持式的分光辐射照度计。凭借先进的
光学传感技术和创新的设计,CL-500A可用于评估新一代光源如LED、OLED、有机
EL照明的显色指数、照度、色度、相关色温等参数。
无论在实验室研发还是照明现场测量,CL-500A都可以满足使用,为用户提供便携轻
松的操作体验。CL-500A运用了分光原理,内置光栅和传感器阵列使其可以对光源光
谱进行分析,通过光谱数据公式计算光源的显色指数。显色指数是对光源的光谱属
性和光品质定义的重要评估标准。用CL-500A可以测量得到一般显色指数Ra和特殊显
色指数R1~R15。用传感器阵列的另一个好处是可以复现光源的光谱图,对如LED、OLED、
高压灯这类波峰能量集中、半波宽较窄的光源的光谱图有很好呈现。
CL-500A不但可以测量显色指数,还可测量照度(lx)、色坐标(1931xy, 1976u'v')、相关色温
T?uv、三刺激值XYZ、特征波长λ、色纯度Pe、色差值。通过随机附送的软件CL-S10w,
可连接电脑显示光源的显色指数评估图、色温色坐标图、光谱数据等。针对同一批次
LED也会出现较大色差的问题,软件提供按颜色对LED分级的功能。
可通过电脑软件CL-S10w,连接最多10台CL-500A同时进行多点测量,方便用户对环境
的照度均匀性、光源色温进行跟踪评估。
CL-500A测量显色指数
很久以前,人类就把物体并排放在自然光(太阳光)下观察,比较各种颜色。
尽管火把、蜡烛、白炽灯以及其他光源也都用来照明,但一直只有在自然光
下比较颜色才是标准做法。
除了荧光灯,最近LED(发光二极管)也已被用作照明灯。物体在这些光源下显
示的色貌与其在自然光下原色貌进行比较,两者的接近程度就是光源的"显色性"。
光源显示的色调越接近自然原色,其显色性就越好(或越高)。显色指数是对灯或
其他光源显色性的量化结果,旨在提供客观标准。显色指数表示被测光源和标准光
源※ 的接近程度。最大值为100。显色差异越大,值越小,说明被测光源显示的颜色
和自然原色的差距越大。
标准光源和被测光源的色温相同。(光源的黑体轨迹与太阳光对应。)CL-500A
显色指数采用直观显示,便于理解。被测光源和标准光源的色差一目了然,条形图
显示一般显色指数Ra(特殊显色指数R1至R8的平均值)和15种特殊显色指数(R1至R15)。
针对LED行业普遍关注的按颜色分级的问题,CL-500A配备软件可提供LED色度分级的功能。
CL-500A小型轻巧的手持式
主机大小为70×83×165 mm,仅重350g的手持式,方便携带,可进行手持测量。另外,
上下均有三脚架固定螺孔,可与支架装置轻松组合。
简便易用的Excel? 附加软件
直接将CL-500A测量数据读入到Excel表格中。然后可使用Excel的功能轻松执行数据处理。
因为峰值波长便于观察,所以光源分类和分级便于操作且精度更高。此外,1nm的数
值数据也可通过列表形式显示。
多点测量功能
数据管理软件CL-S10w可用于控制多达10台CL-500A进行多点测量。使用SDK软件还可
进一步增加数量。
符合JIS和DIN标准
CL-500A符合DIN 5032第7部分B级标准和JIS C 1609-1:2006 AA普通级标准, 是首款符合DIN
和JIS两种标准的便携型分光辐射照度计。
可用于高速测量
使用SDK软件,可执行5次/秒的高速测量。
Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) today announced that the Shanghai Integrated Circuit Research
and Development Center, a nonprofit research consortia dedicated to advancing the microelectronics
industry in China, is using Agilent's Model Builder Program and Model Quality Assurance software for
model extraction and verification at 45-nm process nodes. CL-500A
Shanghai ICRD originally adopted MBP and MQA — integrated software spanning all aspects of device
modeling, including measurement, extraction and verification — for accurate measurement and modeling
of its advanced circuit designs. MBP and MQA 2013 further ease the consortia's modeling process with
major enhancements that allow device-modeling engineers to deliver higher-quality models to their cust
omers. Chief among them are a fully integrated data flow across Agilent's device-modeling platform and
the ability to establish and enforce standard operating procedures for modeling in ,CL-500A,team environments.
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