DSA8300回收DSA8300示波器

DSA8300回收DSA8300示波器

采购示波器31 采购商所在地：广东 深圳市 长期有效，最后更新于2015-03-02，以下是关于“示波器”采购详情。

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回收DSA8300示波器
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回收：网络分析仪
HP8752A，HP8714ET，Agilent （N5230C 带原装校准件一套选件010 245）
HP8719D，HP8714C，Agilent E5070B，AgilentHP3577A，HP8719A，R3765CG，
HP87510A，HP8712C，HP8714ET，HP8711C，Agilent 37200C，37200C，MS4630B，
E5071A，AgilentE5071C，Agilent N3383A，E5062A，R3765BH，HP 8714ET，
HP8703A，R3764CH，R3765CH，Advantest R3767CG，Advantest R3767CG，
Agilent 8720ES，HP8720ES，Agilent 8720E，HP8922D，R3765BG，
Advantest R3765C，E5071B，Agilent8714ES，HP8719ES，R3767CG，R3764，
AdvantestR3767CG，AdvantestR3767CG，HP8510B，HP8720D，HP8720C，
HP8753ET，54147A，HP8711A，HP8753ES，TR4623，Agilent 8757E，HP8753E，
HP8753D，HP8752C，Agilent8711B，AgilentHP8722D，Agilent 8713B，
Agilent E8357A，HP8712ET，R3763B，R3762BH，R3767A，HP8753C，HP8757D，
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DSA8300功能/优势
电模块信号测量准确度：
超低系统抖动（典型 <100 fs）
> 70GHz
<100 fs 本底抖动允许对高位速率（40 和 100 (4′25) Gb/s）设备进行检定，
典型 <5% 的信号单位间隔由测试仪器所使用。70 GHz 带宽允许对高位
速率信号进行完整检定（数据速率 28 Gb/秒的 5 阶谐波和数据速率 >45
Gb/秒的 3 阶谐波）。
所有带宽上系统噪声业内最低：
600 μV 最大（450 μV 典型）@ 60 GHz
380 μV 最大（280 μV 典型）@ 30 GHz
最大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量，避免可能带
来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。
单台主机内最多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动。 多个差分通道的高保真
采集可进行通道间损伤测试，提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。
光模块支持 40 Gb/s 和 100 Gb/s (4x25) 以太网的光一致性测试。
为 40 Gb 和 100 Gb (4x25)、IEEE 802.ba 以太网标准提供经济实惠、功能多样
的光测试系统。
优异的采集吞吐量，采样率最高 300 kS/s。 通过优异的系统吞吐量，可将
制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。
能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。 远程采样头最大程度降低因 DUT
至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化，简化测试系统的反嵌。
独立的已校准通道相差校正。 双通道模块中具有集成的已校准通道相差校
正，消除时滞，增强多通道测量的信号保真度。

DSA8300数字串行分析仪采样示波器
DSA8300产品技术资料
主要特点和优点
最高保真度信号捕获
超低时基抖动
在同时采集的最多8条通道上，典型值为425 fs
在配备82A04相位参考模块时，在最多6条通道上典型值为<200 fs
最佳的垂直分辨率 – 16位模数转换器
电接口分辨率：<20 μV LSB (1 V全量程)
光接口分辨率取决于光接口模块的动态范围 – 从80C07B (1 mW全量程)的<20
nW到80C10B (30 mW全量程)的<0.6 μW
灵活的配置
通过当前采样模块系列，DSA8300支持同时采集最多8个信号
多种光接口、电接口和附件模块，满足您的特定测试要求
光接口模块
全面集成光接口模块，支持155 Mb/s - 100 Gb/s所有标准光接口数据速率
经过认证的光接口参考接收机，支持标准规定必须进行的一致性测试指定的要求
>80 GHz的光接口带宽
光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围，可以准确地
测试和检定短程到远程光接口通信标准
经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗
经过校准的消光比测量，在采用这一出厂校准选项模块时，系统间消光比测量可靠性<0.5 dB
电接口模块
电接口带宽>70 GHz
超低噪声电接口采样器(280 μV @ 20 GHz, 450 μV @ 60 GHz, 典型值)
可以选择带宽(使用80E07, 08, 09, 10)，允许用户用采样器带宽和噪声换取最优的数据采集性能
远程采样器 (80E07, 08, 09, 10)或紧凑的采样扩展器模块电缆，采样器可以放在被测器件附近，
使信号劣化达到最小世界上性能最高的集成TDR (10 ps典型阶跃上升时间)，高效检定阻抗不
连续点，高动态范围，执行高达50 GHz的S参数测量
分析
标准分析功能
为NRZ、RZ和脉冲信号类型提供了一套完整的超过120种自动测量功能
80多种行业标准模板，自动进行模板测试。新模板可以导入到DSA8300中，
支持新的新兴标准。此外，用户可以为自动模板测试定义自己的模板
垂直直方图和水平直方图，对采集的波形进行统计分析
垂直光标、水平光标和波形光标(带测量数据)
通过80SJNB基本和高级应用软件选项提供抖动、噪声、BER和串行数据链路分析
通过IConnect?应用软件选项提供高级TDR分析、S参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能
高测试吞吐量
每条通道高达300 kS/s的采样采集速率
高效编程接口(IEEE-488、以太网或本地处理器接入)，实现高测试吞吐量
应用
设计/检验电信和数据通信器件和系统
ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH制造/一致性测试
高性能真正差分TDR测量
串行数据应用阻抗检定和网络分析，包括S参数
高级抖动、噪声和BER分析
通道和眼图仿真及基于测量的SPICE模型

泰克公司日前宣布，其下一代高性能实时示波器将采用IBM的最新9HP硅锗
(SiGe) 芯片制造工艺。IBM的第五代半导体技术与早前宣布的正在申请专利
的异步时间插值 (Asynchronous Time Interleaving) 技术将使新示波器带宽达到70
GHz并实现信号保真度改善。DSA8300
工作速度达350 GHz的9HP是业内第一种具有90nm BiCMOS密度并提供比当前的
180nm或130nm SiGe芯片更高的性能、更低的功耗和更高集成度的SiGe技术。
泰克是SiGe芯片的长期采用者，用它持续提供业内表现最佳和最精确的示波器。
泰克的下一代高性能示波器将于2014年发布。新示波器具有70 GHz实时带宽和
在未来继续提高的潜力，它将提供400 Gbps和1 Tbps光通信和第四代串行数据通
信等应用所需的性能和信号保真度。示波器技术这一进步是泰克对创新的承诺
和多年来保持业内最高研发投资水平之列的直接结果。

“通过延长我们与技术领导者IBM的长期合作关系，泰克继续挑战高保真、
高速数据采集系统的性能极限。提早采用9HP技术使我们的工程师能够探
索创新架构和一度认为不可达到的性能”，泰克公司首席技术官Kevin Ilcisin表
示，“先进的9HP SiGe BiCMOS技术提供了更快切换速度、高集成度和低噪声，
使我们的下一代高性能示波器能够满足客户的需求。DSA8300”

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